Способ измерения деформаций

Классификация по МПК: G01B

Патентная информация
Заявка на изобретение №: 
2009142347
Дата публикации: 
Пятница, Май 27, 2011

Формула изобретения Способ измерения деформаций, заключающийся в том, что на поверхность контролируемого объекта наносят фоточувствительный слой, фотографируют на нем изображение эталонной сетки, нанесенной на прозрачный материал, а после нагружения объекта фотографируют деформированную фотосетку, сравнивают изображение эталонной и копию деформированной сеток и определяют величины деформаций на поверхности объекта, отличающийся тем, что эталонную сетку наносят на прозрачную пленку путем печатания на лазерном принтере с высокой разрешающей способностью.