Устройство для измерения линейных деформаций образца, выполненного из низкомодульного материала

Классификация по МПК: G01B

Патентная информация
Патент на полезную модель №: 
141589
Дата публикации: 
Вторник, Июнь 10, 2014
Начало действия патента: 
Среда, Май 22, 2013

Формула полезной модели

Устройство для измерения линейных деформаций образца, выполненного из низкомодульного материала, содержащее испытуемый образец, отражающий элемент, выполненный в виде криволинейного зеркала, монохроматический источник, расщепитель, разделяющий пучок на два параллельных пучка одинаковой интенсивности, фотоприемник, отличающееся тем, что монохроматический источник и расщепитель расположены перпендикулярно к оси образца, установленного между площадками нагружающего устройства, отражающий элемент неподвижено закреплен за образцом по ходу светового луча, выполнен с радиусом, большим радиуса поперечного сечения образца.