Патенты на изобретения — G01B

По годам: все года · 2017 · 2016 · 2015 · 2014 · 2013 · 2012 · 2011 · 2010 · 2009 · 2008 · 2007 · 2006 · 2005 · 2004 · 2003 · 2002 · 2001 · 2000 · 1999 · 1998 · 1997 · 1996

2518288 → Способ неразрушающего контроля механической детали

2518017 → Способ и устройство для измерения толщины отложений

2518474 → Способ мониторинга и система для детектирования скручивания вдоль кабеля, снабженного идентификационными метками

2518616 → Способ измерения деформаций объектов из немагнитных материалов и установка для его осуществления

2515134 → Интерференционный многолучевой светофильтр (варианты)

2515961 → Способ и устройство для измерения размеров конструкции

2515339 → Способ измерения линейных перемещений

2516022 → Способ сбора и обработки информации о поверхности образца

2514822 → Способ мониторинга внутренних коррозийных изменений магистрального трубопровода и устройство для его осуществления

2511204 → Устройство контроля, юстировки и сведения оптических осей каналов многоканальных приборов и широкополосный излучатель в видимой и ик-областях спектра

2511205 → Способ определения площадей

2502949 → Дифференциальный индуктивный измеритель перемещения

2491556 → Устройство контроля направления перемещения и положения нагретых металлических и неметаллических изделий

2500981 → Способ измерения несоосности валов

2502952 → Устройство для линейных перемещений с нанометровой точностью в большом диапазоне возможных перемещений

2510486 → Электронная линейка

2502046 → Индукционный датчик углового положения

2498214 → Устройство измерения анизотропии пространства скоростей электромагнитного излучения

2503080 → Тестовый объект для калибровки просвечивающих электронных микроскопов

2502950 → Способ голографической визуализации обтекания движущегося тела

2502954 → Способ визуально-оптического контроля поверхности

2495370 → Устройство для контроля толщины проводящей пленки изделий электронной техники

2500005 → Способ получения голографических интерферограмм фазового объекта

2508524 → Фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения и устройство, его реализующее

2506537 → Оптический способ измерения мгновенного поля толщины прозрачной пленки

Страницы