Патенты на изобретения — G01B

По годам: все года · 2017 · 2016 · 2015 · 2014 · 2013 · 2012 · 2011 · 2010 · 2009 · 2008 · 2007 · 2006 · 2005 · 2004 · 2003 · 2002 · 2001 · 2000 · 1999 · 1998 · 1997 · 1996

2506534 → Способ настройки тензорезисторных датчиков с мостовой измерительной цепью по мультипликативной температурной погрешности с учетом положительной нелинейности температурной характеристики выходного сигнала датчика

2504330 → Устройство слежения за жевательными движениями (варианты) и наушник

2503080 → Тестовый объект для калибровки просвечивающих электронных микроскопов

2502953 → Получение топографии объектов, имеющих произвольную геометрическую форму

2502950 → Способ голографической визуализации обтекания движущегося тела

2504730 → Способ контроля целостности токопроводящего покрытия на диэлектрическом материале

2502954 → Способ визуально-оптического контроля поверхности

2510487 → Устройство для калибровки датчика измерения малых перемещений

2507473 → Устройство для измерения и корректировки отклонения от параллельности в стержне для ядерного топлива

2485440 → Устройство для активного контроля линейных перемещений объекта

2495370 → Устройство для контроля толщины проводящей пленки изделий электронной техники

2507474 → Индукционный датчик положения

2500005 → Способ получения голографических интерферограмм фазового объекта

2508524 → Фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения и устройство, его реализующее

2507479 → Оптоэлектронное устройство для исследования деформационных характеристик волокнистых систем

2507478 → Способ изготовления датчиков для контроля циклических деформаций

2507393 → Способ электромагнитной дефектоскопии в многоколонных скважинах и электромагнитный скважинный дефектоскоп

2506537 → Оптический способ измерения мгновенного поля толщины прозрачной пленки

2506536 → Способ субпиксельного контроля и слежения за перемещением удаленного объекта

2505783 → Способ измерения объектов малых размеров с неровными краями и интерферограмм на базе фотоэлектрических приемников излучения

2505782 → Наклеиваемый полупроводниковый тензорезистор (варианты)

2505781 → Определение толщины сечения ствола дерева

2505780 → Способ исследования деформации и напряжений в хрупких тензоиндикаторах

2504731 → Акустооптический интерферометр

2503922 → Изображающий микроэллипсометр

Страницы